DFT 系列（01）：先别急着插 Scan——DFT 的目标、架构与职责边界

DFT 系列（01）：先别急着插 Scan——DFT 的目标、架构与职责边界核心论点：DFT 不是"后端收尾动作"，也不是 DFT Engineer 一个人能闭环的工作。DFT 会改变寄存器数据路径、时钟控制、复位可控性、功耗模式和顶层测试访问，因此必须在微架构阶段定义。上一篇导读给出了 DFT 的经济学动机；本篇回答三个问题：DFT 到底解决什么技术问题、架构规格应该写什么、以及 DE/DFT/DV/PD/Product 各角色对证据的责任边界。1. DFT 到底解决什么问题1.1 引脚数与内部状态数的鸿沟一颗中等规模 SoC 可能包含数千万个触发器和数百 Mb 存储，而封装引脚通常只有数千个，其中可供测试驱动/观察的更少。量产测试无法像板级调试那样逐点驱动和观察内部节点。DFT 的核心任务，是用额外的硬件结构改善内部状态的可控性（controllability）与可观测性（observability），使制造缺陷能被有限的测试向量激活，并把差异传播到可观测端。背景知识：可控性/可观测性的量化度量始于 1980 年 Sandia 国家实验室的 Goldstein 与 Thigpen 提出的SCOAP（Sandia Controllability/Observabili