在半导体制造的后道工序中，半导体测试机与分选机或探针台的自动化协同，是整个封测厂（OSAT）上位机系统（EAP / Tester Controller / ATE-MES）的核心

在半导体制造的后道工序（Back-End / ATE Test）中，半导体测试机（Tester，如 Advantest、Teradyne）与分选机（Handler，如 Delta, Cohu）或探针台（Prober，如 TEL, Accretech）的自动化协同，是整个封测厂（OSAT）上位机系统（EAP / Tester Controller / ATE-MES）的核心。相比前道（Fab）的晶圆搬运，后道测试机的特点是：超高并发（Site/DUT 数成百上千）、极短 Tact Time（毫秒级测试周期）、高频 Handshake 握手、以及昂贵的 Socket/探针物理损耗。如果上位机的请求幂等、物理事务锁或并发控制设计不当，极易导致：重复下发 Start 指令→\rightarrow→造成探针/Socket 多次无谓压合，严重磨损金针或撞针；测试数据混淆（Bin 别分类错误）