BIST内建自测试

BIST内建自测试一、BIST概述1.1 什么是BISTBIST（Built-In Self-Test）即内建自测试，是一种将测试电路集成到芯片内部的测试技术。它通过在芯片内部集成测试图案生成器和响应分析器，使得芯片可以自行完成测试，无需外部测试设备。1.2 BIST的优势┌─────────────────────────────────────────────────────────────────┐ │ BIST的优势 │ ├─────────────────────────────────────────────────────────────────┤ │ │ │ 优势 │ 说明 │ 实际应用 │ │ ──────────────── │ ───────────────────── │ ──────────────── │ │ 无需外部测试设备 │ 芯片自行完成测试 │ 现场测试、维护 │ │ 测试速度快 │ 内部电路并行测试 │ 快速验证 │ │ 测试成本低